Systems and methods of profiling charged-particle beams
WO2021074260
Art A1
22. April 2021
Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021074260
- Aktenzeichen
- EP20789173
- Anmeldetag
- 15. Oktober 2020
- Veröffentlichung
- 22. April 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01J37/04H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML NETHERLANDS B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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