Method for monitoring influence of defects in few-layer two-dimensional material on exciton transmission
WO2021083354
Art A1
6. Mai 2021
Anmelder: TSINGHUA UNIVERSITY 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021083354
- Aktenzeichen
- EP20882254
- Anmeldetag
- 30. Oktober 2020
- Veröffentlichung
- 6. Mai 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/63G01N21/88G01N21/95
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TSINGHUA UNIVERSITY
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Tsinghua University
Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.
3.287 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.