Apparatus and method for testing semiconductor device by using frequency output properties of semiconductor device and machine learning

WO2021096076 Art A1 20. Mai 2021

Anmelder: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021096076
Aktenzeichen: EP20887192
Anmeldetag: 14. Oktober 2020
Veröffentlichung: 20. Mai 2021
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/317G01R23/16G06N20/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea University Research and Business Foundation

Südkoreanische Einrichtung, die Forschungsprojekte und Technologietransfer der Korea University verwaltet, patentiert Ergebnisse aus universitärer Forschung in Naturwissenschaften, Technik und Medizin und überführt sie in Anwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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