Defect classification method and device for small sample, and computing apparatus

WO2021109627 Art A1 10. Juni 2021

Anmelder: GOERTEK INC. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021109627
Aktenzeichen: EP20895201
Anmeldetag: 26. August 2020
Veröffentlichung: 10. Juni 2021
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/90G06T7/40

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: GOERTEK INC.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Goertek

Chinesischer Elektronikhersteller mit Sitz in Weifang, spezialisiert auf akustische Komponenten, Mikrofone und Zulieferteile für Unterhaltungselektronik.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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