A system and a method for obtaining a performance metric of a device under test based on one or more nearfield measurement results
WO2021148116
Art A1
29. Juli 2021
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021148116
- Aktenzeichen
- EP20701968
- Anmeldetag
- 22. Januar 2020
- Veröffentlichung
- 29. Juli 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R29/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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