Charged particle beam image analysis device, inspection system, and program

WO2021149117 Art A1 29. Juli 2021

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021149117
Aktenzeichen: EP20915630
Anmeldetag: 20. Januar 2020
Veröffentlichung: 29. Juli 2021
Rechtsraum: WO
IPC: G01B15/04H01J37/22H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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