Testing device

WO2021161644 Art A1 19. August 2021

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION, TOEI SCIENTIFIC INDUSTRIAL CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021161644
Aktenzeichen: EP20918518
Anmeldetag: 15. Dezember 2020
Veröffentlichung: 19. August 2021
Rechtsraum: WO
IPC: H01L43/12H01L21/66G01R33/06

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: ADVANTEST CORPORATION
TOEI SCIENTIFIC INDUSTRIAL CO., LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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