X-ray detector and preparation method therefor

WO2021164416 Art A1 26. August 2021

Anmelder: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021164416
Aktenzeichen: EP20920719
Anmeldetag: 25. Dezember 2020
Veröffentlichung: 26. August 2021
Rechtsraum: WO
IPC: H01L27/146H01L31/115H01L31/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SHENZHEN INSTITUTES OF ADVANCED TECHNOLOGY CHINESE
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von