Measuring local critical dimension uniformity of an array of two-dimensional structural elements

WO2021165941 Art A1 26. August 2021

Anmelder: NOVA LTD., INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 🇮🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2021165941
Aktenzeichen
EP21758024
Anmeldetag
23. Februar 2021
Veröffentlichung
26. August 2021
Rechtsraum
WO
IPC
G06N20/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
NOVA LTD.
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
Land
🇮🇱 Israel
🇺🇸 IBM

US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Armonk, New York. International Business Machines entwickelt Hardware, Software, Cloud-Dienste sowie Lösungen für künstliche Intelligenz, Halbleiter und Unternehmens-IT.

12.049 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen