Measuring local critical dimension uniformity of an array of two-dimensional structural elements
WO2021165941
Art A1
26. August 2021
Anmelder: NOVA LTD., INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 🇮🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021165941
- Aktenzeichen
- EP21758024
- Anmeldetag
- 23. Februar 2021
- Veröffentlichung
- 26. August 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06N20/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NOVA LTD.
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION - Land
- 🇮🇱 Israel
🇺🇸
IBM
US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Armonk, New York. International Business Machines entwickelt Hardware, Software, Cloud-Dienste sowie Lösungen für künstliche Intelligenz, Halbleiter und Unternehmens-IT.
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