Pattern matching device, pattern measurement system, and non-transitory computer-readable medium
WO2021166142
Art A1
26. August 2021
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021166142
- Aktenzeichen
- EP20920198
- Anmeldetag
- 20. Februar 2020
- Veröffentlichung
- 26. August 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B9/04G01B11/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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