Sample analysis system, learned model generation method, and sample analysis method

WO2021166388 Art A1 26. August 2021

Anmelder: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021166388
Aktenzeichen: EP20919674
Anmeldetag: 10. Dezember 2020
Veröffentlichung: 26. August 2021
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/73

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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