Automatic test pattern generation (atpg) for parametric faults
WO2021168231
Art A1
26. August 2021
Anmelder: Synopsys, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021168231
- Aktenzeichen
- EP21711434
- Anmeldetag
- 19. Februar 2021
- Veröffentlichung
- 26. August 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06F30/398G06F111/08G06F119/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Synopsys, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Synopsys
Synopsys ist ein US-amerikanischer Anbieter von Software für den Chip- und Systementwurf (EDA) mit Sitz in Kalifornien. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Software und Datenverarbeitung sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Optik und Elektronik für Entwurfswerkzeuge. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.
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