Automatic test pattern generation (atpg) for parametric faults

WO2021168231 Art A1 26. August 2021

Anmelder: Synopsys, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2021168231
Aktenzeichen
EP21711434
Anmeldetag
19. Februar 2021
Veröffentlichung
26. August 2021
Rechtsraum
WO
IPC
G06F30/398G06F111/08G06F119/12
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Synopsys, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Synopsys

Synopsys ist ein US-amerikanischer Anbieter von Software für den Chip- und Systementwurf (EDA) mit Sitz in Kalifornien. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Software und Datenverarbeitung sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Optik und Elektronik für Entwurfswerkzeuge. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

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