X-ray scanning system, x-ray scanning method, and program
WO2021171750
Art A1
2. September 2021
Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021171750
- Aktenzeichen
- EP20921425
- Anmeldetag
- 16. Dezember 2020
- Veröffentlichung
- 2. September 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/044G01N23/046G06T1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- OMRON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
6.710 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.