Analysis method, light emission analysis device, diffuse optical tomography, imaging device, reflectivity measurement device, analysis device, and program
WO2021172290
Art A1
2. September 2021
Anmelder: RIKEN 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021172290
- Aktenzeichen
- EP21759896
- Anmeldetag
- 22. Februar 2021
- Veröffentlichung
- 2. September 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01M11/00G02F1/39G01N21/17G01N21/47G01N21/49G01N21/64
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- RIKEN
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
RIKEN
Japanische staatliche Forschungseinrichtung mit Sitz in Wako bei Tokio, aktiv in Physik, Chemie, Biologie und Ingenieurwissenschaften mit zahlreichen Forschungszentren.
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