Inspection device and inspection method
WO2021177364
Art A1
10. September 2021
Anmelder: HAMAMATSU PHOTONICS K.K. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021177364
- Aktenzeichen
- EP21765503
- Anmeldetag
- 3. März 2021
- Veröffentlichung
- 10. September 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B23K26/00B23K26/53H01L21/02H01L21/66H01L21/301
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hamamatsu Photonics
Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.
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