Learning device, image inspection device, learned parameter, learning method, and image inspection method

WO2021181749 Art A1 16. September 2021

Anmelder: SCREEN HOLDINGS CO., LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021181749
Aktenzeichen: EP20924063
Anmeldetag: 9. November 2020
Veröffentlichung: 16. September 2021
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G06T1/00G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SCREEN HOLDINGS CO., LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 SCREEN Holdings

Japanischer Technologiekonzern. SCREEN Holdings stellt Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie her, insbesondere Wafer-Reinigungs- und Beschichtungssysteme, sowie Druck- und Bildverarbeitungstechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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