Assessment device, test system, assessment method, and assessment program

WO2021181863 Art A1 16. September 2021

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021181863
Aktenzeichen: EP21767546
Anmeldetag: 14. Januar 2021
Veröffentlichung: 16. September 2021
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G01R31/26G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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