Light filtering device, optical microscope, and defect observation apparatus
WO2021192017
Art A1
30. September 2021
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021192017
- Aktenzeichen
- EP20926386
- Anmeldetag
- 24. März 2020
- Veröffentlichung
- 30. September 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G02B26/02B81B3/00G01N21/956G02B21/00H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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