Dielectric test system and method for micro-nano patterned thin film array
WO2021196453
Art A1
7. Oktober 2021
Anmelder: SOOCHOW UNIVERSITY 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021196453
- Aktenzeichen
- EP20928523
- Anmeldetag
- 22. Juli 2020
- Veröffentlichung
- 7. Oktober 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N27/22G01N27/72G01R27/26G01R31/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SOOCHOW UNIVERSITY
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Soochow University
Soochow University ist eine staatliche Universität in Suzhou, China, mit breitem Fächerspektrum einschließlich Materialwissenschaft und Chemie.
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