Radiographic inspection system and scatter correction method
WO2021197075
Art A1
7. Oktober 2021
Anmelder: NUCTECH COMPANY LIMITED 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021197075
- Aktenzeichen
- EP21778941
- Anmeldetag
- 17. März 2021
- Veröffentlichung
- 7. Oktober 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01V5/00G01N23/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NUCTECH COMPANY LIMITED
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Nuctech
Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.
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