Method for analyzing composition of electronic/electrical apparatus component layer, method for processing electronic/electrical apparatus component layer, device for analyzing composition of electronic/electrical apparatus component layer, and device for processing electronic/electrical apparatus component layer
WO2021201251
Art A1
7. Oktober 2021
Anmelder: JX NIPPON MINING&METALS CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021201251
- Aktenzeichen
- EP21780131
- Anmeldetag
- 1. April 2021
- Veröffentlichung
- 7. Oktober 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B07C5/00B09B5/00G01N21/27
Abstract
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Anmelder
- Firma
- JX NIPPON MINING&METALS CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JX Nippon Mining & Metals
JX Nippon Mining & Metals Corporation ist ein japanisches Unternehmen der Nichteisenmetallindustrie, das Kupfer, Halbleitermaterialien und Metallverarbeitung herstellt, Teil der ENEOS-Gruppe.
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