Charged particle beam apparatus with multiple detectors and methods for imaging

WO2021204740 Art A1 14. Oktober 2021

Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021204740
Aktenzeichen: EP21717386
Anmeldetag: 6. April 2021
Veröffentlichung: 14. Oktober 2021
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/244H01J37/145

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML NETHERLANDS B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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