Fast and scalable methodology for analog defect detectability analysis

WO2021211899 Art A1 21. Oktober 2021

Anmelder: SYNOPSYS, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021211899
Aktenzeichen: EP21724098
Anmeldetag: 15. April 2021
Veröffentlichung: 21. Oktober 2021
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3183

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: SYNOPSYS, INC.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Synopsys

Synopsys ist ein US-amerikanischer Anbieter von Software für den Chip- und Systementwurf (EDA) mit Sitz in Kalifornien. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Software und Datenverarbeitung sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Optik und Elektronik für Entwurfswerkzeuge. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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