Radiation-sensitive resin composition, method for forming resist pattern using same, and sulfonic acid salt compound and radiation-sensitive acid generator comprising same
WO2021220648
Art A1
4. November 2021
Anmelder: JSR CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021220648
- Aktenzeichen
- EP21795285
- Anmeldetag
- 16. März 2021
- Veröffentlichung
- 4. November 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C07C309/11C07C317/06C07C317/12C07C317/14C07C321/16C07C321/28C07D317/72C07D327/06G03F7/004G03F7/038G03F7/039C07D307/33
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JSR CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JSR Corporation
JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.
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