System and method to control defects in projection-based sub-micrometer additive manufacturing
WO2021236907
Art A1
25. November 2021
Anmelder: GEORGIA TECH RESEARCH CORPORATION, SAHA, Sourabh Kumar 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021236907
- Aktenzeichen
- EP21808324
- Anmeldetag
- 20. Mai 2021
- Veröffentlichung
- 25. November 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B29C64/268B29C64/00B29C64/20B29C64/264B33Y10/00B33Y30/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- GEORGIA TECH RESEARCH CORPORATION
SAHA, Sourabh Kumar - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Georgia Tech Research Corporation
Die Georgia Tech Research Corporation ist die Einrichtung des Georgia Institute of Technology in den USA, die Forschungsverträge verwaltet und geistiges Eigentum der Universität lizenziert.
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