Non-contact/non-destructive inspection system, signal processing device, and non-contact/non-destructive inspection method
WO2021240817
Art A1
2. Dezember 2021
Anmelder: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021240817
- Aktenzeichen
- EP20937368
- Anmeldetag
- 29. Mai 2020
- Veröffentlichung
- 2. Dezember 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N29/14
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
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