Method for storing calibration data of a device interface in a test system, device interface, test system, and computer program
WO2021244751
Art A1
9. Dezember 2021
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2021244751
- Aktenzeichen
- EP20731825
- Anmeldetag
- 4. Juni 2020
- Veröffentlichung
- 9. Dezember 2021
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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