Substrate manufacturing method, screen mask inspection method, and screen mask inspection device

WO2021250989 Art A1 16. Dezember 2021

Anmelder: CKD CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021250989
Aktenzeichen: EP21822770
Anmeldetag: 9. April 2021
Veröffentlichung: 16. Dezember 2021
Rechtsraum: WO
IPC: B41F15/08B41F15/14B41F35/00B41M1/12G06T7/00H05K3/34

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: CKD CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 CKD

CKD ist ein japanischer Hersteller von Automatisierungs-, Pneumatik- und Verpackungstechnik mit Sitz in Komaki. Das Patentportfolio betrifft Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Maschinenelemente und Fluidtechnik, insbesondere Ventile und Fördersysteme. Die Anmeldungen erstrecken sich von 2001 bis 2025.

262 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Software & Datenverarbeitung Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

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