Sub Micron Particle Detection On Burl Tops By Applying A Variable Voltage To an Oxidized Wafer

WO2021259619 Art A1 30. Dezember 2021

Anmelder: ASML HOLDING N.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2021259619
Aktenzeichen: EP21731735
Anmeldetag: 4. Juni 2021
Veröffentlichung: 30. Dezember 2021
Rechtsraum: WO
IPC: G03F7/20H01L21/683

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML HOLDING N.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Optik & Fototechnik

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