Antifuse storage unit state detection circuit and memory

WO2022012203 Art A1 20. Januar 2022

Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2022012203
Aktenzeichen
EP21841587
Anmeldetag
2. Juni 2021
Veröffentlichung
20. Januar 2022
Rechtsraum
WO
IPC
G11C17/18
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

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