Charged particle beam device and scan waveform generation method

WO2022013918 Art A1 20. Januar 2022

Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022013918
Aktenzeichen: EP20944843
Anmeldetag: 13. Juli 2020
Veröffentlichung: 20. Januar 2022
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/147H01J37/153

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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