X-Ray Ct Scanner Evaluation Tool
WO2022014132
Art A1
20. Januar 2022
Anmelder: NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022014132
- Aktenzeichen
- EP21843062
- Anmeldetag
- 12. Mai 2021
- Veröffentlichung
- 20. Januar 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/046
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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