An automated test equipment, a process and a computer program for testing one or more devices under test, wherein different test activities make use of subsets of the device under test resources
WO2022017589
Art A1
27. Januar 2022
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022017589
- Aktenzeichen
- EP20746141
- Anmeldetag
- 21. Juli 2020
- Veröffentlichung
- 27. Januar 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06F11/263G01R31/3185
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
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