Automated test equipment and method using device specific data

WO2022017590 Art A1 27. Januar 2022

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2022017590
Aktenzeichen
EP20746142
Anmeldetag
21. Juli 2020
Veröffentlichung
27. Januar 2022
Rechtsraum
WO
IPC
G01R13/02G01R31/3177H04L43/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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