Automated test equipment and method using device specific data
WO2022017590
Art A1
27. Januar 2022
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022017590
- Aktenzeichen
- EP20746142
- Anmeldetag
- 21. Juli 2020
- Veröffentlichung
- 27. Januar 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R13/02G01R31/3177H04L43/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
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