Polarimetric microscope in reflection for the measurement of the refractive index and associated optical method

WO2022023005 Art A1 3. Februar 2022

Anmelder: BONASTRE, Sanchez A., ÉCOLE POLYTECHNIQUE, CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE 🇪🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022023005
Aktenzeichen: EP21766390
Anmeldetag: 12. Juli 2021
Veröffentlichung: 3. Februar 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/21G01N21/41

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: BONASTRE, Sanchez A.
ÉCOLE POLYTECHNIQUE
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE
Land: 🇪🇸 Spanien

🇫🇷 Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Französische staatliche Forschungsorganisation mit Sitz in Paris. Betreibt Grundlagen- und angewandte Forschung in nahezu allen wissenschaftlichen Disziplinen über zahlreiche Institute und Labore.

13.083 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von