Device and film thickness variation inspection method

WO2022024968 Art A1 3. Februar 2022

Anmelder: FUJIFILM CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022024968
Aktenzeichen: EP21849430
Anmeldetag: 26. Juli 2021
Veröffentlichung: 3. Februar 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/06G01N21/89G01N21/896

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: FUJIFILM CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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