A fabrication process deviation determination method, calibration method, inspection tool, fabrication system and a sample
WO2022028778
Art A1
10. Februar 2022
Anmelder: ASML NETHERLANDS B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022028778
- Aktenzeichen
- EP21737435
- Anmeldetag
- 29. Juni 2021
- Veröffentlichung
- 10. Februar 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G01N21/55G01N21/956
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML NETHERLANDS B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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