Inspection device for pattern drawing device
WO2022044992
Art A1
3. März 2022
Anmelder: NIKON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022044992
- Aktenzeichen
- EP21861419
- Anmeldetag
- 20. August 2021
- Veröffentlichung
- 3. März 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/24G02B26/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NIKON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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