Inspection device and inspection method

WO2022049979 Art A1 10. März 2022

Anmelder: HAMAMATSU PHOTONICS K.K., TOHOKU UNIVERSITY 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022049979
Aktenzeichen: EP21864037
Anmeldetag: 4. August 2021
Veröffentlichung: 10. März 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/62G01N21/64G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
TOHOKU UNIVERSITY
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

1.968 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Tohoku University

Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.

837 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von