Systems and methods for detecting forcer misalignment in a wafer prober
WO2022060403
Art A1
24. März 2022
Anmelder: MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022060403
- Aktenzeichen
- EP21708519
- Anmeldetag
- 4. Februar 2021
- Veröffentlichung
- 24. März 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28G01D5/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Microchip Technology
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Chandler, Arizona, bekannt für Mikrocontroller und analoge Halbleiterbauelemente.
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Fachgebiete
Vertreten von
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