Self refresh cycle testing method and apparatus, and auto refresh number testing method and apparatus
WO2022068127
Art A1
7. April 2022
Anmelder: CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC. 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022068127
- Aktenzeichen
- EP21873794
- Anmeldetag
- 26. Januar 2021
- Veröffentlichung
- 7. April 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C11/406
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- CHANGXIN MEMORY TECHNOLOGIES, INC.
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Changxin Memory Technologies
Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.
2.637 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.