Method for inspecting semiconductor device having function of determining trap site information, and device for inspecting semiconductor device

WO2022075804 Art A1 14. April 2022

Anmelder: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022075804
Aktenzeichen: EP21878054
Anmeldetag: 8. Oktober 2021
Veröffentlichung: 14. April 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/30G01R31/28G01R19/12

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: KOREA UNIVERSITY RESEARCH AND BUSINESS FOUNDATION
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea University Research and Business Foundation

Südkoreanische Einrichtung, die Forschungsprojekte und Technologietransfer der Korea University verwaltet, patentiert Ergebnisse aus universitärer Forschung in Naturwissenschaften, Technik und Medizin und überführt sie in Anwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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