High-resolution in-situ temperature difference and pressurization chip in transmission electron microscope and preparation method therefor

WO2022082989 Art A1 28. April 2022

Anmelder: XIAMEN UNIVERSITY 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022082989
Aktenzeichen: EP20958563
Anmeldetag: 24. Dezember 2020
Veröffentlichung: 28. April 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/2202

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: XIAMEN UNIVERSITY
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Xiamen University

Die Xiamen University ist eine chinesische Universität mit breiter naturwissenschaftlicher Forschung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik, organische Chemie und Pharma beziehungsweise Biotechnologie, ergänzt um Mess- und Prüftechnik sowie Kunststofftechnik. Anmeldungen laufen durchgehend von 2000 bis in die Gegenwart.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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