Method, device, and system for measuring nonlinearity-related parameter of nonlinear apparatus
WO2022088048
Art A1
5. Mai 2022
Anmelder: FUJITSU LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022088048
- Aktenzeichen
- EP20959210
- Anmeldetag
- 30. Oktober 2020
- Veröffentlichung
- 5. Mai 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H04L25/49H04B10/116
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJITSU LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
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