All-inorganic transistor x-ray detector and manufacturing method therefor
WO2022104705
Art A1
27. Mai 2022
Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022104705
- Aktenzeichen
- EP20961996
- Anmeldetag
- 20. November 2020
- Veröffentlichung
- 27. Mai 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L31/119H01L31/115
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shenzhen Institutes of Advanced Technology
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.
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