Method and apparatus for determining when actual wear of a flash memory device differs from reliability states for the flash memory device

WO2022108618 Art A1 27. Mai 2022

Anmelder: MICROCHIP TECHNOLOGY INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2022108618
Aktenzeichen
EP21729088
Anmeldetag
30. April 2021
Veröffentlichung
27. Mai 2022
Rechtsraum
WO
IPC
G06N3/04G06N3/08G11C16/24G11C29/02G11C16/26
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
MICROCHIP TECHNOLOGY INC.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Microchip Technology

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Chandler, Arizona, bekannt für Mikrocontroller und analoge Halbleiterbauelemente.

1.426 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

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