Abnormality detection device and abnormality detection method
WO2022113459
Art A1
2. Juni 2022
Anmelder: IHI CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022113459
- Aktenzeichen
- EP21897437
- Anmeldetag
- 31. August 2021
- Veröffentlichung
- 2. Juni 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- F22B37/38F22B37/42G05B23/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- IHI CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
IHI Corporation
Japanischer Industriekonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Schwermaschinenbau, Luft- und Raumfahrttriebwerke sowie Anlagenbau.
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