Substrate foreign matter inspection device and substrate foreign matter inspection method

WO2022118523 Art A1 9. Juni 2022

Anmelder: CKD CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022118523
Aktenzeichen: EP21900279
Anmeldetag: 22. September 2021
Veröffentlichung: 9. Juni 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: CKD CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 CKD

CKD ist ein japanischer Hersteller von Automatisierungs-, Pneumatik- und Verpackungstechnik mit Sitz in Komaki. Das Patentportfolio betrifft Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Maschinenelemente und Fluidtechnik, insbesondere Ventile und Fördersysteme. Die Anmeldungen erstrecken sich von 2001 bis 2025.

262 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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