Matrix-based characterization and measurements for semiconductor thin-film material

WO2022125215 Art A2 16. Juni 2022

Anmelder: THE BOARD OF TRUSTEES OF THE LELAND STANFORD JUNIO 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2022125215
Aktenzeichen: EP21904070
Anmeldetag: 29. Oktober 2021
Veröffentlichung: 16. Juni 2022
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/89G01N21/892G01B11/06G01J3/447

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: THE BOARD OF TRUSTEES OF THE LELAND STANFORD JUNIO
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 The Board of Trustees of the Leland Stanford Junior University

Rechtsträger der US-amerikanischen Stanford University in Kalifornien, der als Anmelder der zahlreichen Patente aus der Universitätsforschung fungiert. Schwerpunkte liegen unter anderem in Biotechnologie, Informatik und Materialwissenschaften.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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