Defect inspection device, defect inspection method, and manufacturing method

WO2022130762 Art A1 23. Juni 2022

Anmelder: AGC INC. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2022130762
Aktenzeichen
EP21906126
Anmeldetag
14. Oktober 2021
Veröffentlichung
23. Juni 2022
Rechtsraum
WO
IPC
G01N21/88G01N21/958
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
AGC INC.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 AGC (Asahi Glass)

Japanischer Glas- und Chemiekonzern mit Sitz in Tokio, früher als Asahi Glass Company firmierend. AGC entwickelt Flachglas, elektronische Materialien, Spezialchemikalien sowie Glasprodukte für Automobil-, Bau- und Elektronikindustrie.

7.332 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen