Defect inspection device, defect inspection method, and manufacturing method
WO2022130762
Art A1
23. Juni 2022
Anmelder: AGC INC. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2022130762
- Aktenzeichen
- EP21906126
- Anmeldetag
- 14. Oktober 2021
- Veröffentlichung
- 23. Juni 2022
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/88G01N21/958
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- AGC INC.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
AGC (Asahi Glass)
Japanischer Glas- und Chemiekonzern mit Sitz in Tokio, früher als Asahi Glass Company firmierend. AGC entwickelt Flachglas, elektronische Materialien, Spezialchemikalien sowie Glasprodukte für Automobil-, Bau- und Elektronikindustrie.
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